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超聲波探傷檢測(cè)中遇到的常見問題有哪些?
更新時(shí)間:2021-10-22 09:28
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 1.什么是無損探傷/無損檢測(cè)?

  答:(1)無損探傷是在不損壞工件或原材料工作狀態(tài)的前提下,對(duì)被檢驗(yàn)部件的表面和內(nèi)部質(zhì)量進(jìn)行檢查的一種測(cè)試手段。

 ?。?)無損檢測(cè):Nondestructive Testing(縮寫 NDT)

  2、常用的探傷方法有哪些?

  答:無損檢測(cè)方法很多據(jù)美國(guó)國(guó)家宇航局調(diào)研分析,認(rèn)為可分為六大類約70余種。但在實(shí)際應(yīng)用中比較常見的有以下幾種:

  常規(guī)無損檢測(cè)方法有:

  ●超聲檢測(cè) Ultrasonic Testing(縮寫 UT);

  ●射線檢測(cè) Radiographic Testing(縮寫 RT);

  ●磁粉檢測(cè) Magnetic particle Testing(縮寫 MT);

  ●滲透檢驗(yàn) Penetrant Testing (縮寫 PT);

  ●渦流檢測(cè)Eddy current Testing(縮寫 ET);

  非常規(guī)無損檢測(cè)技術(shù)有:

  ●聲發(fā)射Acoustic Emission(縮寫 AE);

  ●泄漏檢測(cè)Leak Testing(縮寫 UT);

  ●光全息照相Optical Holography;

  ●紅外熱成象Infrared Thermography;

  ●微波檢測(cè) Microwave Testing

  3、超聲波探傷的基本原理是什么?

   答:超聲波探傷儀的種類繁多,但在實(shí)際的探傷過程,脈沖反射式超聲波探傷儀應(yīng)用的最為廣泛。一般在均勻的材料中,缺陷的存在將造成材料的不連續(xù),這種不 連續(xù)往往又造成聲阻抗的不一致,由反射定理我們知道,超聲波在兩種不同聲阻抗的介質(zhì)的交界面上將會(huì)發(fā)生反射,反射回來的能量的大小與交界面兩邊介質(zhì)聲阻抗 的差異和交界面的取向、大小有關(guān)。脈沖反射式超聲波探傷儀就是根據(jù)這個(gè)原理設(shè)計(jì)的。

  目前便攜 式的脈沖反射式超聲波探傷儀大部分是A掃描方式的,所謂A掃描顯示方式即顯示器的橫坐標(biāo)是超聲波在被檢測(cè)材料中的傳播時(shí)間或者傳播距離,縱坐標(biāo)是超聲波反 射波的幅值。譬如,在一個(gè)鋼工件中存在一個(gè)缺陷,由于這個(gè)缺陷的存在,造成了缺陷和鋼材料之間形成了一個(gè)不同介質(zhì)之間的交界面,交界面之間的聲阻抗不同, 當(dāng)發(fā)射的超聲波遇到這個(gè)界面之后,就會(huì)發(fā)生反射(見圖1 ),反射回來的能量又被探頭接受到,在顯示屏幕中橫坐標(biāo)的一定的位置就會(huì)顯示出來一個(gè)反射波的波形,橫坐標(biāo)的這個(gè)位置就是缺陷在被檢測(cè)材料中的深度。這個(gè) 反射波的高度和形狀因不同的缺陷而不同,反映了缺陷的性質(zhì)。

  4、超聲波探傷的主要特性有哪些?   

答:(1)超聲波在介質(zhì)中傳播時(shí),在不同質(zhì)界面上具有反射的特性,如遇到缺陷,缺陷的尺寸等于或大于超聲波波長(zhǎng)時(shí),則超聲波在缺陷上反射回來,探傷儀可將反射波顯示出來;如缺陷的尺寸甚至小于波長(zhǎng)時(shí),聲波將繞過缺陷而不能反射;

 ?。?)波聲的方向性好,頻率越高,方向性越好,以很窄的波束向介質(zhì)中輻射,易于確定缺陷的位置。

 ?。?)超聲波的傳播能量大,如頻率為1MHZ(100赫茲)的超生波所傳播的能量,相當(dāng)于振幅相同而頻率為1000HZ(赫茲)的聲波的100萬倍。

  5.超聲波探傷與X射線探傷相比較有何優(yōu)的缺點(diǎn)?

  答:超聲波探傷比X射線探傷具有較高的探傷靈敏度、周期短、成本低、靈活方便、效率高,對(duì)人體無害等優(yōu)點(diǎn);缺點(diǎn)是對(duì)工作表面要求平滑、要求富有經(jīng)驗(yàn)的檢驗(yàn)人員才能辨別缺陷種類、對(duì)缺陷沒有直觀性;超聲波探傷適合于厚度較大的零件檢驗(yàn)。

6、超生波探傷板厚14毫米時(shí),距離波幅曲線上三條主要曲線的關(guān)系怎樣?  

答:測(cè)長(zhǎng)線 Ф1 х 6 -12dB

  定量線 Ф1 х 6 -6dB

  判度線 Ф1 х 6 -2dB

  7、簡(jiǎn)述超生波探傷中,超生波在介質(zhì)中傳播時(shí)引起衰減的原因是什么?   

答:(1)超聲波的擴(kuò)散傳播距離增加,波束截面愈來愈大,單位面積上的能量減少。

 ?。?)材質(zhì)衰減一是介質(zhì)粘滯性引起的吸收;二是介質(zhì)界面雜亂反射引起的散射。

 8、用超生波探傷時(shí),底波消失可能是什么原因造成的?  

答:(1)近表表大缺陷;(2)吸收性缺陷;(3)傾斜大缺陷;(4)氧化皮與鋼板結(jié)合不好。

 9、CSK-ⅡA試塊的主要作用是什么?  

答:(1)校驗(yàn)靈敏度;(2)校準(zhǔn)掃描線性。

  10.超聲波探傷選擇探頭K值有哪三條原則?  

答:(1)聲束掃查到整個(gè)焊縫截面;

 ?。?)聲束盡量垂直于主要缺陷;

 ?。?)有足夠的靈敏度。

 11、用超生波對(duì)餅形大鍛件探傷,如果用底波調(diào)節(jié)探傷起始靈敏度對(duì)工作底面有何要求?   

答:(1)底面必須平行于探傷面;

 ?。?)底面必須平整并且有一定的光潔度。

 12、超聲波探傷儀主要有哪幾部分組成?   

答:主要有電路同步電路、發(fā)電路、接收電路、水平掃描電路、顯示器和電源等部份組成。

  13、發(fā)射電路的主要作用是什么?

  答:由同步電路輸入的同步脈沖信號(hào),觸發(fā)發(fā)射電路工作,產(chǎn)生高頻電脈沖信號(hào)激勵(lì)晶片,產(chǎn)生高頻振動(dòng),并在介質(zhì)內(nèi)產(chǎn)生超聲波。

  14、超聲波探傷中,晶片表面和被探工件表面之間使用耦合劑的原因是什么?   

答:晶片表面和被檢工件表面之間的空氣間隙,會(huì)使超聲波完全反射,造成探傷結(jié)果不準(zhǔn)確和無法探傷。

  15、JB1150-73標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的判別缺陷的三種情況是什么?

  答:(1)無底波只有缺陷的多次反射波。

 ?。?)無底波只有多個(gè)紊亂的缺陷波。

 ?。?)缺陷波和底波同時(shí)存在。

  16、JB1150-73標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的距離――波幅曲線的用途是什么?   

答:距離――波幅曲線主要用于判定缺陷大小,給驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)提供依據(jù)它是由判廢線、定量線、測(cè)長(zhǎng)線三條曲線組成;

  判廢線――判定缺陷的最大允許當(dāng)量;

  定量線――判定缺陷的大小、長(zhǎng)度的控制線;

  測(cè)長(zhǎng)線――探傷起始靈敏度控制線。

  17、什么是超聲場(chǎng)?   

答:充滿超聲場(chǎng)能量的空間叫超聲場(chǎng)。

  18、反映超聲場(chǎng)特征的主要參數(shù)是什么?

  答:反映超聲場(chǎng)特征的重要物理量有聲強(qiáng)、聲壓聲阻抗、聲束擴(kuò)散角、近場(chǎng)和遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)。

  19、探傷儀最重要的性能指標(biāo)是什么?

  答:分辨力、動(dòng)態(tài)范圍、水平線性、垂直線性、靈敏度、信噪比。

  20、超聲波探傷儀近顯示方式可分幾種?

   答:(1)A型顯示示波屏橫坐標(biāo)代表超聲波傳遞播時(shí)間(或距離),縱坐標(biāo)代表反射回波的高度;(2)B型顯示示波屏橫坐標(biāo)代表超聲波傳遞播時(shí)間(或距 離),這類顯示得到的是探頭掃查深度方向的斷面圖;(3)C型顯示儀器示波屏代表被檢工件的投影面,這種顯示能繪出缺陷的水平投影位置,但不能給出缺陷的埋藏深度。

  21、超聲波探頭的主要作用是什么?   

答:1、 探頭是一個(gè)電聲換能器,并能將返回來的聲波轉(zhuǎn)換成電脈沖;2、控制超聲波的傳播方向和能量集中的程度,當(dāng)改變探頭入射 角或改變超聲波的擴(kuò)散角時(shí),可使聲波的主要能量按不同的角度射入介質(zhì)內(nèi)部或改變聲波的指向性,提高分辨率;3、實(shí)現(xiàn)波型轉(zhuǎn)換;4、控制工作頻率;適用于不 同的工作條件。

  22、為什么要加強(qiáng)超波探傷合錄和報(bào)告工作?   

答:任何工件經(jīng)過超聲波探傷后,都必須出據(jù)檢驗(yàn)報(bào)告以作為該工作質(zhì)量好壞的憑證,一份正確的探傷報(bào)告,除建立可靠的探測(cè)方法和結(jié)果外,很大程度上取決于原始記錄和最后出據(jù)的探傷報(bào)告是非常重要的,如果我們檢查了工件不作記錄也不出報(bào)告,那么探傷檢查就毫無意義。

  23、無損檢測(cè)有哪些應(yīng)用  

應(yīng)用時(shí)機(jī):設(shè)計(jì)階段;制造過程;成品檢驗(yàn);在役檢查。

  應(yīng)用對(duì)象:各類材料(金屬、非金屬等);各種工件(焊接件、鍛件、鑄件等);各種工程(道路建設(shè)、水壩建設(shè)、橋梁建設(shè)、機(jī)場(chǎng)建設(shè)等)。http://www.industryinspection.com 

  24、超聲波焊縫探傷時(shí)為缺陷定位儀器時(shí)間掃描線的調(diào)整有哪幾種方法?

  答:有水平定位儀、垂直定位、聲程定位三種方法

  25、在超聲波探傷中把焊縫中的缺陷分幾類?怎樣進(jìn)行分類?   

答:在焊縫超聲波探傷中一般把焊縫中的缺陷 分成三類:點(diǎn)狀缺陷、線狀缺陷、面狀缺陷。

  在分類中把長(zhǎng)度小于10mm的缺陷叫做點(diǎn)狀缺陷;一般不測(cè)長(zhǎng),小于10mm的缺陷按5mm計(jì)。把長(zhǎng)度大于10mm的缺陷叫線狀缺陷。把長(zhǎng)度大于10mm高度大于3mm的缺陷叫面狀缺陷。

  26、超聲波試塊的作用是什么?   

答:超聲波試塊的作用是校驗(yàn)儀器和探頭的性能,確定探傷起始靈敏度,校準(zhǔn)掃描線性。

  27、什么是斜探頭折射角β的正確值?   

答:斜探頭折射角的正確值稱為K值,它等于斜探頭λ射點(diǎn)至反射點(diǎn)的水平距離和相應(yīng)深度的比值。

  28、當(dāng)局部無損探傷檢查的焊縫中發(fā)現(xiàn)有不允許的缺陷時(shí)如何辦?   

答:應(yīng)在缺陷的延長(zhǎng)方向或可疑部位作補(bǔ)充射線探傷。補(bǔ)充檢查后對(duì)焊縫質(zhì)量仍然有懷疑對(duì)該焊縫應(yīng)全部探傷。

  29、超聲波探傷儀中同步信號(hào)發(fā)生器的主要作用是什么?它主要控制哪二部分電路工作?   

答:同步電路產(chǎn)生同步脈沖信號(hào),用以觸發(fā)儀器各部分電路同時(shí)協(xié)調(diào)工作,它主要控制同步發(fā)射和同步掃描二部分電路。

  30、無損檢測(cè)的目的?   

答:1、改進(jìn)制造工藝;2、降低制造成本;3、提高產(chǎn)品的可能性;4、保證設(shè)備的安全運(yùn)行。

  31.超探儀的作用及主要應(yīng)用行業(yè)  

超 探儀是一種便攜式工業(yè)無損探傷儀器,它能夠快速便捷、無損傷、精確地進(jìn)行工件內(nèi)部多種缺陷(焊縫、裂紋、夾雜、折疊、氣孔、砂眼等)的檢測(cè)、定位、評(píng)估和 診斷。既可以用于實(shí)驗(yàn)室,也可以用于工程現(xiàn)場(chǎng)。本儀器能夠廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、鋼鐵冶金業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)等需要缺陷檢測(cè)和質(zhì)量控制的領(lǐng)域,也廣泛應(yīng) 用于航空航天、鐵路交通、鍋爐壓力容器等領(lǐng)域的在役安全檢查與壽命評(píng)估。它是無損檢測(cè)行業(yè)的必備儀器。

編號(hào)

應(yīng)用行業(yè)

1

電力

2

鍋爐與壓力容器

3

機(jī)械

4

鋼鐵工業(yè)

5

鋼結(jié)構(gòu)

6

石油

7

化工

8

鐵路

9

航天航空

10

船舶

11

管道

12

高校

13

永磁

14

科研院所

15

軍工

16

陶瓷

32.有關(guān)超聲波探傷的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)和行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)

超聲波探傷國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)和行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)有: 
1、QB/T 無損檢測(cè)術(shù)語 超聲檢測(cè) 
2、JB/T 10061-1999 A型脈沖反射式超聲探傷儀通用技術(shù)條件 
3、JJG 746-91 超聲探傷儀 中華人民共和國(guó)國(guó)家計(jì)量檢定規(guī)程

33.斜探頭K值與角度的對(duì)應(yīng)關(guān)系

NO.

K值

對(duì)應(yīng)角度

1

K1

對(duì)應(yīng)45度

2

K1.5

對(duì)應(yīng)56.3度

3

K2

對(duì)應(yīng)63.4度

4

K2.5

對(duì)應(yīng)68.2度

5

K3

對(duì)應(yīng)71.6度

34. 焊縫探傷超聲波探頭的選擇方案參考

編號(hào)

被測(cè)工件厚度

選擇探頭和斜率

選擇探頭和斜率

1

4—5mm

6×6 K3

不銹鋼:1.25MHz 
鑄鐵:0.5—2.5 MHz 
普通鋼:5MHz

2

6—8mm

8×8 K3

3

9—10mm

9×9 K3

4

11—12mm

9×9 K2.5

5

13—16 mm

9×9 K2

6

17—25 mm

13×13 K2

7

26—30 mm

13×13 K2.5

8

31—46 mm

13×13 K1.5

9

47—120 mm

13×13( K2—K1)

10

121—400 mm

18×18 ( K2—K1) 
20×20 ( K2—K1)

 注:以上方案僅作參考,各企業(yè)可視具體情況稍作改動(dòng)

  35.探頭型號(hào)表  

注:下表所列探頭型號(hào)僅供探傷時(shí)參考

產(chǎn)品名稱

頻率(MHZ)

晶片面積(mm2)

說明

直探頭(硬保護(hù)膜)

0.5~10

Φ8 Φ10 Φ14 Φ20 Φ24Φ30

 

直探頭(軟保護(hù)膜)

0.5~5

Φ10 Φ14 Φ20 Φ24

 

雙晶片直探頭

2.5~5

10×12×2Φ14×2Φ20×2

F5 F10 F15 F20 F30

斜探頭

1~5

9×9 8×8 10×12 Φ14 
12×15 14×16 13×13Φ20

30o40o50oK1 K1.5 K2 K2.5 K3

斜探頭

1~5

18×18

雙晶片斜探頭

2.5 5

8×8×2 10×12×2

K1 K2 K3 
F10 F20 F30

表面波探頭

2.5 5

9×9 10×12 13×13

HB-50

回波探頭

?

?

?

小角管探頭

2.5 5

Φ14 Φ20

 

小角管探頭

5

6×6 5×7

K1 K2 K2.5 K3

小角管探頭

5

雙晶曲面片

?

板波探頭

1~5

20×20? 30×30

入射角由用戶定

爬波探頭

1~5

?

 

薄波探頭

5

?

可檢測(cè)5MM以下薄板

可變角探頭

2.5 5

10×10

角度可變范圍0o~90o

液浸式探頭

1~5

Φ10 Φ12 Φ14 Φ20

?

充水探頭

1~5

Φ14 Φ20

?

雙晶充水探頭

1~5

Φ14 Φ20

交距由用戶定

液浸聚焦探頭

1~5

Φ14 Φ20

點(diǎn)聚焦線聚焦

接觸式聚焦直探頭

2.5? 5

Φ14 Φ20

焦距10~60

接觸式聚焦斜探頭

2.5? 5

Φ14 Φ20

焦距10~60

常規(guī)測(cè)厚探頭

1~5

?

?

小徑管測(cè)厚探頭

1~5

Φ8

?

中溫測(cè)厚探頭

1~5

?

上限300℃

高溫測(cè)厚探頭

1~5

?

上限500℃

深水探頭

1~5

?

用于水下超聲探傷


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